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新內(nèi)存芯片挑戰(zhàn)Flash與DRAM

編輯:cnbeta網(wǎng)站        日期:2013/8/15 10:01:08        閱讀:2445

      DRAM和Flash芯片,收到一家美國創(chuàng)業(yè)公司開發(fā)出一種更緊湊更快的內(nèi)存芯片挑戰(zhàn)。新的內(nèi)存芯片被稱為交叉內(nèi)存(crossbar memory),由Crossbar研發(fā),該公司聯(lián)合創(chuàng)始人兼首席科學(xué)家是密歇根大學(xué)教授Wei Lu。

     演示用交叉內(nèi)存芯片正在臺積電制造,一塊200平方毫米大小的芯片能儲存1TB數(shù)據(jù),相比之下,一塊類似大小的flash內(nèi)存芯片只能儲存16GB數(shù)據(jù)。所謂交叉內(nèi)存是指出兩層均勻分布棒狀的電極上下疊加在一起,上層和下層呈直角,形成一個網(wǎng)格。數(shù)據(jù)比特就儲存在交叉點。在Crossbar的芯片中,上層電極由銀構(gòu)成,下層由非金屬導(dǎo)體構(gòu)成,用非晶硅在交叉點儲存數(shù)據(jù)。Crossbar獲得了2500萬美元的投資商業(yè)化Lu的研究。